CSIフランスの科学機器メーカーで、専門的なAFM設計概念、および既存のAFMデザインオプションを提供します。同社は専門家チームによって設立され、彼らはAFM領域での作業が20年です。いくつかのメーカーの歴史的背景を持つ先駆者として、最高の経験で創造されたNano-Observerアナログおよびデジタル電子デバイスと高級コンポーネントの間に最も完璧な組み合わせが見つかりました。高品質な研究型AFM上級ユーザーと初心者の両方のニーズに対応しています。レーザーアライメントに針先を事前に位置決めする必要があるシステムを回避し、針先/サンプルの上部と側面図は、垂直なモータ制御システムと結合して、光学ウィンドウとX-Yサンプル並進テーブルの結合によりサンプルの位置決めが簡単になり、任意の研究型実験室や工場に負担のかかるソリューションを提供した。

基本的な技術的特徴

1）コントローラ仕様

XYそうさはんい 100 μm（±10%），Z軸走査範囲9μm（±10%），XY駆動解像度24ビット制御-0.06Åm

最大データサンプリングポイント4096

2）予め設定されたモード

追加のモジュールを追加する必要なく、必要な測定をすべて実現し、簡単に選択することができますAFMモード、ソフトウェア駆動、および対応する電子機器への接続は生成されません

エラーまたは損害。簡単なクリックで、すべてのAFMモード間のカット、

3）フレキシブル材料の電気的試験ResiScope

フレキシブルResiScope原理は間欠接触に基づいており、サンプルの摩擦ギフト針先の一定力は定量的な測定を提供し、微細サンプルの表面を損傷しない。

4）HDKFMパターン＃パターン＃

標準的なKFMモード、Nano-ObserverHDも提供可能KFMパターンは、分解能を大幅に向上させ、表面電位の測定感度を向上させ、

5）Nano-Observerかんきょうせいぎょ

設計は環境制御モジュール（気体、湿度、温度）を提供し、電気器具の測定性能を向上させ、或いはサンプルを酸化から保護する

適用＃テキヨウ＃

一般サンプル/生体試料の表面形態

マルチモジュール構成測定（PFM/KFM/EAFM/CAFMなど）

に通じをつけるResiScope^TMモード走査（10桁以上の電流、抵抗）。