X線管は分析サンプルの上に位置し、真空室内の飛散粉末が光管を損傷するリスクを最小限に抑え、粉末サンプルの分析に接着剤を使用する必要がなく、サンプルの製造をより迅速かつ簡便にすることができる。
粉末及び金属試料の試料処理量を最適にするために、低速及び高速で直接真空引き及び脱真空速度を切り替えることができる。

特徴

• 粉末、固体サンプルの異なる元素の異なる含有量の高精度分析を実現する

• 高精度位置決めサンプルテーブルは合金分析の高精度要求を満たす

• 特殊光学系による試料表面の凹凸による誤差の低減

• サンプル室は簡単に取り外せるので清潔に便利

• 操作インタフェースが簡潔で自動化されている

ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III＋は酸素（O）からウラン（U）までの主要および二次原子元素を少ない基準で様々な試料タイプで迅速に定量した。

光学素子より高いダクトで信頼性が高い

ZSX Primus III+は革新的な光学的上記構成を有する。サンプル室のメンテナンスのため、汚染されたビーム経路や停止時間の心配はもはやありません。光学素子以上の幾何構造は、クリーニングの問題を解消し、使用時間を延長する。

高精度サンプル位置決め

試料の高精度位置決めにより、試料表面とX線管との間の距離が一定に保たれる。これは、合金分析などの高精度な応用を要求する上で重要である。ZSX Primus III＋は、溶融ビーズやプレス粒子などの試料中の非平坦表面に起因する誤差を最小限に抑えるために、独自の光学配置を用いて高精度分析を行った

EZ-scanソフトウェアを使用したSQX基本パラメータ

EZスキャンにより、ユーザは事前に設定されていない未知のサンプルを分析することができる。時間を節約する機能は、マウスを数回クリックしてサンプル名を入力するだけです。SQX基本パラメータソフトウェアを組み合わせると、最も正確で迅速なXRF結果を提供することができます。SQXは、ラインオーバーラップを含むすべての行列効果を自動的に補正することができます。SQXはまた、光電子（光及び超軽量元素）、異なる雰囲気、不純物及び異なる試料サイズの二次励起効果を補正することができる。マッチングライブラリと完全なスキャン解析プログラムを使用することで、精度を高めることができます。

特徴

• 元素のOからUへの分析

• ダクト上の光学素子は汚染問題を最小化する

• 敷地面積が小さく、使用するラボスペースが限られている

• 高精度サンプル位置決め

• 特殊光学素子は曲面サンプル表面による誤差を低減することができる

• 統計プロセス制御ソフトウェアツール（SPC）

• スループットにより疎開率と真空漏洩率を最適化