FT 110 A X線蛍光めっき層厚測定器の性能：

1.すぐに測定！

2.10秒で50 nmの極薄金めっき測定を完了！

3.無標本測定が可能！

4.サンプル全体の画像を通じて測定位置をより便利に選択！

FT 110 A X線蛍光めっき層厚測定器の特徴：

1.自動位置決め機能による操作性の向上

サンプルを測定する場合、従来は約10秒かかっていたサンプルのピント合わせが、現在は3秒以内に完了し、サンプルの位置決めの操作性を大幅に向上させることができます。

2.マイクロストリップ膜厚測定精度向上

サンプルとの距離を縮小するなどして、微小コリメータ（0.1、0.2 mm）下においても膜厚測定の精度を大幅に向上させることができる。

3.5層までのマルチメッキ測定

薄膜FP法ソフトウェアを用いて、厚さ標準シートがなくても5層10元素までのマルチメッキ測定を行うことができる。

4.広域観察システム（オプション）

より大きな250×200 mmのサンプル全体の画像から測定位置を指定できます。

5.大型プリント配線板に対応（オプション）

600×600 mmの大型プリント配線板の測定が可能です。

6.低価格

従来機種に比べ、機能性の向上と20%以上の価格低減を両立。

FT 110 A X線蛍光めっき層厚測定器規格：

選択肢：

・画像処理ソフトウェア

・ブロックFPソフトウェア（材料組成解析）

・ブロック検査量線ソフトウェア（めっき液分析）