上海屹持光電技術有限公司
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テラヘルツ反射試験モジュールテラヘルツ時間領域分光器反射試験モジュールテラヘルツ分光器反射試験モジュール
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製品の詳細

製品の概要

上海屹持光電はテラヘルツ時間領域分光計反射試験モジュールを発売し、任意の平行テラヘルツ時間領域光路に使用することができる。そのデフォルトの入射角度は30°であり、上下反射の構造設計はサンプルと基準平面の位相を同期させることができる。これは、モジュールを簡単に追加するだけで、既存のテラヘルツ時間領域分光計のテスト機能を拡張することができ、テラヘルツ時間領域分光計が高反射率および高吸収率材料をテストする目的を実現することを意味します。

テラヘルツ反射モジュールにはサンプル基板があり、2つのレンズ取り付けインターフェースがあり、焦点テスト用のTPXレンズも提供しています。また、THzビームをコリメートするための試験用に30×30 mmより大きいサイズの試料を配置することができる2つの打錠アダプタも含まれています。小さな口径の打錠は、テラヘルツビーム試験試料を集束するためにレンズに合わせて使用する必要がある。

テラヘルツ反射試験モジュール技術パラメータ

入射角度 30°
反射基準面 研磨後のアルミニウム面
大判サンプルアダプタ サンプルサイズ30*30 mm(通光口径25 mm)
小型サンプルアダプタ サンプルサイズ15*15 mm(通光孔径5 mm)
時間領域時間遅延 150 ps(レンズなし)/175 ps(レンズ追加)



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