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スイスEquotip Piccolo 2ペン硬度計
スイスのEquotip Piccolo 2ペン硬度計は、自動化アプリケーションの**遠隔制御機能に使用されています。*産業現場での大型、大型、設置済みワークピースのテストに適しています。
製品の詳細
スイスEquotip Piccolo 2ペン硬度計
携帯型硬度測定器の***Equotipは、単一荷重放出機構煉瓦利技術を用いた新しいEquotip Piccolo 2/Bambino 2を盛大に発売した
金属硬度のモニタリング
金属は*最終製品に変換する前に異なるプロセスで処理されなければならない。各プロセスは金属の機械的および化学的性質に影響を与える。例えば、鋼の強度はその化学成分と微細構造転移によって決定される。マクロ変数は、*最終製品の品質を制御するために使用されます。硬度は比較的監視しやすい金属的特徴である。1975
年、Proceqは**性の携帯型金属硬度測定器「Equotip」を発明した。すでに業界標準となっているリヒターの原理もProceq
発明は、金属硬度の測定を非常に簡単にする。現在、Equotip Piccolo 2/Bambino 2はProceqが上等な製品を作る伝統を発信し続けている。
Piccolo 2とBambino 2の違い
Equotip Piccolo 2とBambino 2はいずれも現場で金属硬度を検出するのに適しており、圧痕の検出はできるだけ小さい。信頼性の高い設計と大きなディスプレイにより、ユーザーは
視認性の低いダスト作業環境で使用されています。2つの製品はまた、すべての一般的な尺度で金属硬度を表示することができる。
Piccolo 2の機能はBambino 2と同様であるほか、次のような機能もあります。
1）ユーザ定義の硬度変換
2）以下のアプリケーションを有するPiccolinkソフトウェア：
a）システム化リアルタイムモニタリング硬度
b）連続生産過程における自動試験
c）測定データの評価と処理
d）リモートPiccolo 2設定
Equotip Piccolo 2とBambino 2にはD型衝撃装置が付属している。この衝撃装置は、任意のDL衝撃装置と交換することができ、制限領域での測定に非常に有用である。
Equotip硬度検出器のリフレクタ反発原理
*金属に一般的に使用される携帯型硬度検出器は、Proceq SA発明のリフレクタスプリングバック法に基づく。Equotip Piccolo 2 / Bambino 2
試料に衝撃を与える前後の衝撃体のエネルギー比を用いて計算された硬度値を有するリッター原理で操作した。このエネルギー指数（EQUO）は硬度単位HLは、衝撃体の衝撃速度と反発速度（vi、vr）の比で算出される。硬い試料における衝撃体の反発速度は柔らかい試料に比べて速く、それによってより大きなエネルギー指数が得られ、
金属の硬度は、HLD（リヒター）、HRC（ロックス）、HB（ブリス）、HV（ビヒター）など、異なるスケールで表示できます。Piccolo 2/Bambino 2を使用独特でレンガ利得を得る単一荷重解放機構であり、選択された硬度スケールを用いて硬度測定値を取得し、表示することができる。
Equotip Piccolo 2には、特殊合金の変換曲線をカスタマイズしたり、硬度示度を耐張強度に変換したりする追加の機能があります。
インパルス装置DL
| -これはProceq一家が提供する機能です。これにより、Piccolo 2/Bambino 2を使用してDとDLをすばやく簡単に交換することができます。 | 衝撃装置 | |
| テストブロック | -Equotipを検証するためには、基準硬度オブジェクト上で定期的に3～10回のテスト衝撃を実行する必要があります。 | 計器が正しく動作するかどうか。ユーザの硬度要求に応じて、各種試験ブロックを使用することができる。より便利にするために、試験ブロックはまた異なる尺度で基準硬度値を示した。 |
| サポートリング- | リヒター反発検出器は、衝撃体が衝撃中に試験表面から適切な距離にある場合にのみ正しく動作することができる。複数のタイプのサポートリングにより、平面、凹面、突起シリンダ、球状テスト面など、さまざまな形状のターゲットでテストすることができます。 | スイスEquotip Piccolo 2ペン硬度計 |
| D型衝撃装置を使用する | DL型衝撃装置を使用する | 測定範囲 |
| 150-950 HLD | 250-970 HLDL けいきすんぽう |
|
| 147.5 x 44 x 20 mm | 203 x 44 x 20 mm | |
| けいきじゅうりょう | 142 g | |
| 152グラム | へんかん | |
| 80-955 HV、81-678 HB、20-70 HRC、38-102 HRB、30-100 HS | （** Equotip Piccolo 2：274-2193 N/mm2） | |
| 解像度 | 1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB；0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS（** Equotip | |
| Piccolo 2：1 N/mm2 Rm） | 測定精度 | |
| ±4 HLD/HLDL（800 HLD/HLDLの場合0.5%） | *大検出硬度 | |
| 890 HLD (955 HV, 68 HRC) | 衝撃方向/エネルギー | |
| 自動補償/11 Nmm | ボールプレッシャーヘッド | |
| 炭化タングステン（約1’500 HV），~ 3 mm | ハウジング | |
はく離防止硬質亜鉛合金
| バッテリ | 充電可能リチウム電池、2万回以上の衝撃を実行でき、充電電流100 mA |
| 統合ストレージ | 不揮発性RAM、32 kB、約2000個の測定値を記憶可能（**Equotip Piccolo 2） |
| 操作条件 | |
| 温度：-10から+60°C（14から140°F）、湿度：*高さ90% | IPレベル |
| IP52 | 添付ファイル |
| 352 95 021 | Equotip DLアクセサリキット |
| 350 01 015 | Equotip結合剤 |
| テストブロック | 357 11 100 |
| EquotipテストブロックD/DC、Proceqキャリブレーション（<500 HLD/<225 HV/<220 HB） | 357 12 100 |
| EquotipテストブロックD/DC、Proceq経由 | キャリブレーション（~ 600 HLD/~ 335 HV/~ 325 HB/~ 35 HRC） |
| 357 13 100 | EquotipテストブロックD/DC、Proceqによるキャリブレーション(~ 775 HLD/~ 630 HV/~ 56 HRC) |
| 357 11 120 | |
| EquotipテストブロックDL、Proceqキャリブレーション（<710 HLDL/<225 HV/<220 HB） | 357 12 120 |
| EquotipテストブロックDL、Proceq経由 | キャリブレーション(~ 780 HLDL/~ 335 HV/~ 325 HB/~ 35 HRC) |
| 357 13 120 | EquotipテストブロックDL、Proceqキャリブレーション（~ 890 HLDL/~ 630 HV/~ 56 HRC） |
| 357 10 109 | Equotipテストブロック挿入式較正D/DC |
| 357 10 129 | Equotipテストブロック挿入式キャリブレーションDL |
| サポートリング | 350 03 000 |
| Equotipサポートリングセット（12個入）はD/DC/C/E/D+15に適している | 350 03 001 |
| EquotipサポートリングZ 10-15 | 350 03 002 |
| EquotipサポートリングZ 14.5-30 | 350 03 003 |
| EquotipサポートリングZ 25-50 | 350 03 004 |
| EquotipサポートリングHZ 11-13 | 350 03 005 |
| EquotipサポートリングHZ 12.5-17 | 350 03 006 |
| EquotipサポートリングHZ 16.5-30 | 350 03 007 |
EquotipサポートリングK 10-15
350 03 008
EquotipサポートリングK 14.5-30
350 03 009
EquotipサポートリングHK 11-13
350 03 010
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