広州標旗光電科学技術発展株式会社
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SpecEl スペクエル ススススペクエル スススペクエル ススススペクエル スススペクエル スススススススペクエル
製品の詳細

SpecEl-2000-VIS基板表面から反射される偏光を測定し,波長関数として材料の厚さと折射指数を決定します.SpecElはPCで制御されます。折射指数、吸収率、厚さをボタンのタッチで測定します。

オールインワン正確システム

SpecElには統合光源,分光計,70°に固定された2つの極化器が備わっています.また、32ビットのWindowsオペレーティングシステムを搭載したPCも含まれています。SpecElは,0.1nmほど薄く,5μmまで厚い単一層を検出できます.さらに、0.005°までの折射指数を提供することができます。

SpecElはCall for Priceで利用できます。

SpecElソフトウェアと「レシピ」ファイル

SpecEl ソフトウェアでは、設定し、実験方法ファイルを1ステップ解析のために保存します。 「レシピ」を作成した後、実験を実行するレシピを選択できます。

仕様

波長範囲: 380-780 nm(標準)または450-900 nm(任意)
光学解像度: 4.0nm FWHM
精度: 0.1 nmの厚さ;0.005%折射指数
発生角度: 70°
フィルム厚さ: 単一の透明フィルムのための1-5000 nm
スポットサイズ: 2 mm x 4 mm(標準)または 200 µm x 400 µm(オプション)
サンプリング時間: 3-15秒(最低)
運動記録: 3秒
機械的許容(高さ): +/- 1.5 mm、角度 +/- 1.0°
層数: 最大32層
参照: 適用しません

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