一、プログラム式冷熱衝撃試験箱製品の概要
このシリーズ製品は航空宇宙製品、情報電子機器計器、材料、電気工、車両、金属、電子製品、各種電子元気部品、電線、ケーブルなどの高低高速交互環境下で、その各性能項目の指標を検査するのに適している。及び品質管理のための
1.GJB 150.5 A-2009温度衝撃試験
2.GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度衝撃試験
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子製品環境試験
第2部:試験方法温度変化試験ガイドライン
3.GJB 360 B-2009温度衝撃試験
4.GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007電工電子製品環境試験第2部:試験方法試験A:低温
5.GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007電工電子製品環境試験第2部:試験方法試験B:高温
6.GB/T 10589-2008低温試験箱技術条件
7.GB/T 11158-2008高温試験箱技術条件
三、プログラム式冷熱衝撃試験箱技術パラメータ
プロジェクト |
説明 |
製品名 |
れいねつしょうげきしけんボックス |
モデル |
HD-E703-150T |
試料制限 |
本試験設備は可燃性、爆発性、揮発性物質試料の試験を禁止する、腐食性物質を貯蔵する試料の試験、生物を貯蔵する試験、強い電磁放出源を貯蔵する試料の試験及び貯蔵 |
容積、重量、寸法 |
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こうしょうようせき |
150L |
ないぶタンク有効寸法すんぽう |
500×500×600 W×H×D(mm) |
外形空間 |
約1380×1800×2030 W×H×D(mm) |
じゅうりょう |
650㎏ |
ノイズ |
75db内側(離機台正面1メートルと地面1.2メートル測定) |
最大電力 |
33KW |
さいだいでんりゅう |
45A |
おんどはんい |
高温域の温度範囲:RT~170℃ 低温域温度範囲:RT~-75℃ 試験区温度範囲:-40~ 150℃ |
おんどしょうげきはんい |
高温:60℃~ 150℃低温: -10℃ ~ -40℃
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せいぎょせいど |
解析精度: 0.1℃ おんどへんどうど:±1℃ ぶんぷきんいつど:≤2.5℃ 温度偏差:±1℃ |
ちくれいじかん |
RT→-60℃ ≤40min |
ちくねつじかん |
RT→170℃≤35min |
注:1立方メートルあたりの負荷は以下である35kg/m3鋼の熱容量 |
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注:以上の性能指標は環境温度が+25℃、相対湿度≦ 85%RH、無試料条件下で測定した値 |