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LAP−W 320湿式レーザ粒度分析器
LAP-W 320湿式レーザー粒度分析器の主な性能特徴:先進的な光路設計:LAP-W 320補助検出器は多点鏡像分布設計を採用し、光路調整時に補助検出器は主検出器に従って移動する。LAP-W 320の優れた安定性を保証
製品の詳細

LAP-W320湿式レーザー粒度分析器主な性能特徴:

  1. 先進的な光路設計:LAP-W 320補助検出器は多点鏡像分布設計を採用し、光路調整時に補助検出器は主検出器に従って移動する。LAP-W 320の優れた安定性と再現性を保証した。
  2. 全自動テスト:真の全自動テスト、あなたがしたのはサンプルを入れるだけ、人工的にデータを選ぶ必要はなく、機器結果の権威性を保証している。
  3. 防塵、防振設計:機器全体は密封設計を行い、内部部品の使用寿命を大幅に向上させた。独自の懸濁構造は外部振動による機器への干渉を効果的に回避し、結果テストをより安定して信頼できるものにすることができる。
  4. ネオンレーザー:LAP-W 320は高安定、長寿命のヘリウム-ネオンレーザーを採用している。
  5. 光路自動校正:サンプル窓の交換による光路の微変化により、機器は自分で光路を調整することができる。
  6. 独自の微量循環システム:分散媒は150ミリリットル以上で循環試験ができ、本当に微量循環試験に達した。
  7. 非排気泡設計:新しい設計により、試験過程全体に気泡が試験サンプル窓に入らず、気泡干渉を回避した。
  8. サンプルに残留物がない設計:計器構造は最適化設計を行い、計器配管、循環ポンプ内に貯留液の残留物がなく、次の試験データへの影響を回避した。
  9. サンプル窓の交換装置:新しい設計のサンプル窓の交換装置は、サンプル窓の交換をより便利にします。

湿式レーザー粒度分析器主な技術パラメータ:

LAP-W 320技術パラメータ

規格型番

LAP-W320

実行基準

ISO13320,GB/T19077.1-2003

テスト範囲

0.2~320μm

チャネル数

46

正確性

1%未満(標準D 50偏差)

くりかえしせい

1%未満(標準D 50偏差)

レーザ光

ヘリウム−ネオンレーザλ=632.8 nm、p>2mW

光路調整方式

光路自動対中、精度が10 umに

テスト速度

<2 min/回

インタフェースモード

RS 232またはUSB方式。








粉末レーザ粒度分布計粉体粒径試験器

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