専門機器機器・試験プログラムベンダーである上海堅融実業有限公司JETYOO INDUSTRIAL&堅友（上海）測定機器有限公司JETYOO INSTRUMENTS、元アンジェロン・エージェント製品テクニカルサポートエンジニア-堅いJETおよび吉時利KEITHLEY製品技術応用エンジニア-融YOO2011年に共同で設立された技術サポートを特色とする代理貿易会社は、古いものを捨てて新しいものを作ることを目指しています！輸入機器設備の多くのメーカーが国内に販売拠点を設けているだけで、技術サポートが弱いかないかをカバーし、代理販売店も販売専用で、販売前技術の質疑応答/テスト方案を専門とせず、アフターサービスの使用訓練/修理校正を専門としない空白を埋める。私たちの技術販売エンジニアはすべて本科以上の学歴で、しかもすべて10年以上のテスト業界の経験があって、私たちの先進的で独特な経営理念で、専門は祖国のユーザーのために計器設備、テスト方案、技術訓練、修理計量サービスを提供して、上海華東地区の1家のために技術を導きとする.の計器設備総合サービス業者。

日置LCRテスタHIOKI IM 3536パフォーマンスの特長

電解コンデンサの容量測定：

JIS規格試験電解コンデンサによると、電解コンデンサの容量値は試験周波数によって容量値の差が大きいため、実際の回路の動作周波数に基づいて容量値を確認する必要がある。

セラミックコンデンサの容量測定：

セラミックコンデンサは、電圧に応じて変化する高誘電率型と温度補償型に分けることができる。JIS規格は2種類のセラミックの容量特性に対して異なる試験要求がある。LCRテスタIM 3536の周波数範囲DC、4 Hz ~ 8 MHz、内蔵電圧範囲10 mV ~ 5 Vを使用して、上記2種類の異なる要求の容量試験に最適である。

インダクタ（コイル）のインダクタンス測定：

インダクタ（コイル）が備えるインダクタンスとコイルの寄生容量は、LC共振現象を自己共振と呼ぶ。このような自己共振を発生させる周波数を自己共振周波数と呼ぶ。コイルを評価する際には、自己共振周波数よりも低い周波数でLとQを測定してください。

インダクタの周波数特性を測定する：

LCRテスタIM 3536の測定周波数は広く、DC、4 Hz〜8 MHzに設定することができ、連続的に変化する周波数を評価する測定に最適である。コンピュータに付属品LCRをインストールしてアプリケーションソフトウェア（CD-R）を採用し、インタフェース（USB、GP-IB、RS-232 C）を通じて、スキャン機能を行うことができ、自動測定された測定値はExcelまたはCSV形式で保存することができる。

広い範囲の測定条件の下で、実際の使用条件を研究開発し評価するLCRテスターに非常に適している

広い周波数範囲のLCRは、異なる動作周波数範囲における圧電素子やコイルなどの共振周波数の開発と評価に適している。圧電素子とコイルの共振周波数を評価するのにおすすめです。アプリケーションソフトウェア※を使用すれば、周波数、電圧、電流のスキャンと測定を簡単に行うことができます。

可変周波数：DC、4 Hz〜8 MHz

電圧可変：10 mV〜5 V（Vモード／CVモード）

電流可変：10μA〜100 mA（CCモード）

※コンピュータを使用してスイープ（または電圧、電流）を設定し、測定データをCSVまたはExcel形式で保存することができます。アプリケーションは標準装備のCDを使用してインストールするか、HPからダウンロードしてください。

連続測定機能：電源インダクタンスのL-Qを1 kHzで検査したい、直流抵抗（Rdc）も検査したい。この場合、IM 3536は1台で2種類のテスト要求の下で連続高速テストを行うことができる。

LCRテスターは自動化ラインで信頼性をテストする：テストライン補償

線長補正設定は、0 m/1 m/2 m/4 mに設定できます。テストラインが延長された場合も精度が保証されます。

LCRテスターは自動化ラインで信頼性をテストする：接触検査機能

4端子測定時には、試験端と被測定物との接触状態を判断する設定をしておく。LPOT〜LCUR間とHPOT〜HCUR間の接触抵抗を測定し、設定した閾値を超えた場合に警報信号を発する。

日置LCRテスタHIOKI IM 3536基本パラメータ

測定モードLCR（単一条件下で測定）、連続測定（保存条件下で連続測定）

測定パラメータZ、Y、θ、X、G、B、Q、Rdc（直流抵抗）、Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

測定レンジ100 mΩ~ 100 MΩ、10速レンジ（すべてのパラメータはZで規定）

表示範囲Z：0.00 m ~ 9.99999 GΩ、Y：0.000 n ~ 9.99999 GS、θ：±（0.000°~ 999.999°）、Q：±（0.00 ~ 9999.99）、Rdc：±（0.00 m ~ 9.99999 GΩ）、D：±（0.0000 ~ 9.99999）、Δ%：±（0.000%~ 999.999%）など

基本精度Z：0.05%rdg.θ：0.03°（代表値、精度保証範囲：1 mΩ〜200 MΩ）

測定周波数4 Hz～8 MHz（10 mHz～100 Hzステップ）

信号レベル［Vモード、CVモード］を測定する［通常モード］

4 Hz ~ 1.0000 MHz：10 mV ~ 5 V（最大50 mA）

1.0001 MHz ~ 8 MHz：10 mV ~ 1 V（最大10 mA）

［Vモード、CVモード］の［低Z高精度モード］

4 Hz ~ 1.0000 MHz：10 mV ~ 1 V（最大100 mA）

［CCモード］の［通常モード］

4 Hz ~ 1.0000 MHz：10μA ~ 50 mA（最大5 V）

1.0001 MHz ~ 8 MHz：10μA ~ 10 mA（最大1 V）

［CCモード］の［低Z高精度モード］

4 Hz ~ 1.0000 MHz：10μA ~ 100 mA（最大1 V）

［直流抵抗測定］：1 V固定

DCバイアス発生範囲：DC電圧0 ~ 2.50 V（低Z高精度モード時0 ~ 1 V）

出力インピーダンス通常モード：100Ω、低Z高精度モード：10Ω

カラーTFT 5.7インチを表示、タッチスクリーン

機能比較器、BIN測定（2項目10種類分類）、トリガ機能、オープン・ショート補償、接触検査、パネル保存・読み取り機能、記憶機能

インタフェースEXT I/O（プロセッサ）、/USB/Uディスク/LAN/GP-IB/RS-232 C、BCD出力

電源AC 100 ~ 240 V、50/60 Hz、50 VA max

体積及び重量330 W×119 H×230 Dmm、4.2 kg

付属品電源コード×1、取扱説明書×1、CD-R（通信説明書、LCR応用光ディスク）×1

プローブ・治具

9268−10または9269−10を使用する場合は、外接する定電圧源、定電流源が必要である。

SMD試験治具IM 9100直結型、底部に電極SMD用、DC～8MHz，測定可能サンプルサイズ：0402～1005（JIS）

4端子ケルビンクリップ9140-10、DC ~ 200 kH、50Ω、1 m長

試験治具9261-10、線長1 m、DC ~ 5 MHz、特性インピーダンス50Ω、測定可能ポート直径：0.3 ~ 1.5 mm

試験治具9262、DC～8 MHz,ちょくせつせつぞくがた

SMD試験治具9263、直接接続型、DC～5 MHz試験サイズ：1 mm～10.0 mm

DCバイアス電圧ユニット9268-10、直接接続型、40 Hz ~ 8 MHz、最大印加電圧DC±40 V

DCバイアス電流セル9269-10、直接接続型、40 Hz ~ 2 MHz、最大印加電流DC 2 A（最大印加電圧DC±40 V）

4端子プローブ9500-10、線長1 m、DC ~ 200 kHz、50Ω、導体径φ0.3 mm ~ 2 mm測定可能

側面に電極を有するSMD DC ~ 120 MHz用のSMD試験治具9677、試験サンプルサイズ：3.5 mm±0.5 mm

SMD試験治具9699、底部に電極を有するSMD DC ~ 120 MHz用、試験サンプルサイズ：幅1.0 ~ 4.0 mm、高さ1.5 mm以下

フロントエンドプローブIM 9901は、L 2001のフロントエンドの汎用サイズを交換するために用いられ、L 2001は標準

L 2001の先端の小型サイズを交換するための先端プローブIM 9902

4端子プローブL 2000、DC ~ 8 MHz、長さ1 m

ピンセット形プローブL 2001、線長73 cm、DC～8 MHz、50Ω、先端電極間隔：0.3～6 mm（IM 9901：JISサイズ1608～5750）（IM 9902：JISサイズ0603～5750）

PC通信

GP-IB接続線9151-02、長さ2 m

RS-232 C接続線9637、9 pin-9 pin、長さ1.8 m