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FT 110 A|卓上XRFめっき厚さ測定器
製品紹介FT 110 Aは生産中のめっき層分析の挑戦に対応するためのデスクトップXRF分析器である
製品の詳細

製品紹介

FT110A型デスクトップ型XRF の分析器は、生産中のめっき分析の課題に対応することを目的としている。強力なX放射線蛍光技術と自動位置決め機能を結合することにより、めっき現場の生産力を高めることに役立ち、同時に部品が高基準に適合することを確保する。

精度と信頼性は品質制御をサポートするXRF の分析の核心であり、FT110A型現在のメッキアセンブリに必要な精度を提供することができます。更新されたイメージングシステム、自動サンプル位置決め、大サンプルテーブルはこの分析器を非常に使いやすくし、フラックスを向上させ、人為的ミスを減少させた。強力なFT110A型最大4層と基材を同時に測定することができ、施設が最高の業界メッキ仕様を満たすことを24時間365日サポートします。

製品の特徴

高スループット生産のために設計されており、FT110A型品質管理をサポートする方法

強力な高感度テクノロジーにより、数秒で結果を提供

完成品の安全に対する非破壊検査

自動化機能による生産性の向上

最大4層と基材を分析し、めっき液を加えた

専門外のオペレータによる使用が容易

測定方法適合ISO 3497 のASTM B568 のDIN 50987号

大見本室は各種サンプルを収容できる

アプリケーションに合わせてカスタマイズ可能なオプション


技術パラメータ

FT110A型

要素範囲

Ti - U

プローブ

比例カウンタシステム

サンプルカプセル設計

開閉式または溝開き式

コリメータ数

2 または4

さいしょうコリメータ

0.025 x 0.4 mm

XY軸見本台選択

プログラム制御または固定

XY軸見本台ストローク

250×200mm

プログラム制御Zじくストローク

150ミリメートル

最大サンプルサイズ

500×400×150 mm

サンプルフォーカス

フォーカスレーザーとオプションのオートフォーカス

サンプルビュー

カメラビューとオプションの第2広角カメラ

測定点の識別

オプション

ソフトウェア

X線ステーション

オンライン照会
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  • Eメール
  • ウィーチャット
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  • メッセージの内容

操作は成功しました!

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