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絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム
絶縁劣化及びイオン移動特性評価システムは電子製品のますます小型軽量及び高密度パッケージに直面し、結露吸湿などの要素による絶縁不良現象及びイオン移動現象がますます際立ち、絶縁抵抗劣化（イオン移動）評価システムは高温高湿試験箱と連動し、高精度連続監視ができ、イオン移動現象による寿命及び絶縁抵抗劣化に関す
製品の詳細
詳細：
絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム用途：
電子製品のますます小型軽量及び高密度パッケージに直面し、結露吸湿などの要素による絶縁不良現象及びイオン移動現象が日増しに突出し、絶縁抵抗劣化（イオン移動）評価システムは高温高湿試験箱と連動し、高精度連続観測ができ、イオン移動現象による寿命及び絶縁抵抗劣化に関する問題を高効率簡便に評価することができる。
絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム適用基準：
JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6
絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム技術仕様：
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製品名 |
絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム |
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モデル |
4月13日 |
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120V基板 |
250V基板 |
500V基板 |
1000V基板 |
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基板試験部 |
テスト抵抗範囲 |
320Ω～120TΩ |
320Ω～2.5TΩ |
320Ω～250TΩ |
320Ω～500TΩ |
320Ω～1000TΩ |
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テストチャネル数 |
8ch/基板 |
16 cm/基板 |
8ch/基板 |
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接続ケーブル |
2ルートペア/基板 4せんけい |
2ルートペア/基板 テストケーブルのロード×2 |
2ルートペア/基板 ローディングケーブル×1、テストケーブル×1 |
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電気特性 |
電気 圧 加 乗せる 部（ぶ） |
ローディング電圧 |
でんあつレンジ1 |
0.10V～120.00V |
0.1V～250.0V |
1.0V～500.0V |
1.0V～1000.0V |
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でんあつレンジ2 |
0.100ボルト～12.000V |
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ロード設定解像度 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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基本ロード精度 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS+0.5V/FS |
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大きな出力 |
96mW/ch |
256mW/8ch |
300mW/ch |
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ロードグループ数 |
1グループ（1時間/1グループ） |
2グループ（8チャネル/1グループ） |
1グループ（8チャネル/1グループ） |
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ロードレンジ |
2測定範囲 |
1測定範囲 |
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ロードチャネル数 |
1時間 |
8ch |
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大きな負荷容量 |
2.0μF/1ch |
0.47μF/8ch |
3300度/1時間 |
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電気 圧 表示 に示す 器 |
ディスプレイレンジ |
2測定範囲 |
1測定範囲 |
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ディスプレイ 範囲 |
でんあつレンジ1 |
0.00V～120.00V |
0.0V～250.0V |
0.0～500.0V |
0.0V～1000.0V |
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でんあつレンジ2 |
0.000V～12.000V |
-- |
-- |
-- |
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ディスプレイ解像度 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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基本ディスプレイ精度 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS+0.5V/FS |
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ディスプレイ分割単位 |
1時間 |
1グループまたは1時間 |
1時間 |
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ディスプレイサイクル |
40ミリ秒 |
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ディスプレイチャネル数 |
8ch |
16 cm |
8ch |
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電気 流れ 測る 試す |
テストレンジ |
3測定範囲 |
2測定範囲 |
3測定範囲 |
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ディスプレイ 範囲 |
カレントレンジ1 |
0.00μA～320.00μA |
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カレントレンジ2 |
0.0000μA～3.2000μA |
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カレントレンジ3 |
0.00nA～32.000nA |
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0.000nA～32.000nA |
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レンジ設定 |
320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·自動 |
320.00μA·3.2000μA·自動 |
320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自動 |
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小さな解像度のテスト |
カレントレンジ1 |
10nA |
10nA |
10nA |
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カレントレンジ2 |
100pA |
100pA |
100pA |
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カレントレンジ3 |
1pA |
1pA |
1pA |
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基本的なテスト精度 |
±0.3%/FS |
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チャネル数 |
8ch |
16 cm |
8ch |
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データしゅうき |
定期的30秒（小）/イオン移動時40ミリ秒（小） |
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イオン移動試験速度 |
40ミリ秒 |
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リーク検出 |
400μs/ch |
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テストサイクル |
40ミリ秒 |
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その他の機能 |
自己診断 |
外付け標準抵抗診断 ※オプション |
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チェーン |
ケースドアが開いている場合、自動割り込み機能をテストする ※オプション |
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断線チェックアウト |
端子断線検出機能 |
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試験槽内温湿度収録 |
温湿度試験基板を追加し、3 CS・キーレスソフトウェアが大きく収録可能4スロットデータ ※オプション |
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サンプル温度収録 |
通じて3CS SMU各チャンネルに収録可能1点 ※オプション |
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システムの大きな構成 |
4月13日 |
80センチ（10ベース) |
160 cm（10ベース) |
80センチ（10ベース) |
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SIR13mini |
24時間（3ベース) |
48 cm（3ベース) |
24時間（3ベース) |
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制御部 |
システム制御コンピュータ |
Windows XP Pro。SP2に適Windows2000）Pentium 500 MHz以上 メモリ256MB以上 |
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試験部の接続 |
GP-IBまたはイーサネット |
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その他 |
停電対策 |
停電発生前に収録データを保存し、通電後も収録を継続できる ※無停電電源は必須 |
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制御ユニット |
構造タイプ |
4月13日 |
SMU 10スロットタイプ 外形寸法：W430×H300×D620※突起部分を含まない 重量：約30kg（SMU 10枚配備時） 消費電流：5A以下（100V使用時） |
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SIR13mini |
SMU 3スロットタイプ 外形寸法：W220×H370×D390※突起部分を含まない 重量：約20キロ（SMU 3枚配備時） 消費電流：2A以下（100V使用時） |
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たいざつおんせい |
1μsパルス2KV 1分 |
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ぜつえんていこう |
直流500 v 100 MΩ以上 |
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電源の使用 |
AC85V～264V 50/60Hz |
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使用環境 |
温度+10℃～+40℃ 湿度75%相対湿度以下（結露なし） |
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環境の保存 |
温度-10℃～+ 60℃ |
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絶縁劣化及びイオン移動特性評価システム 製品画像
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